Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
Поставить закладку
1.1. Волновые поля в кристаллах
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 6 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
-
1.1. Волновые поля в кристаллах
1.2. Дисперсионное пространство и геометрия дифракции
1.3. Учет граничных условий
1.4. Учет поглощения в динамической теории
1.5. Уравнения Такаги - Топэна
2. Получение изображения кристалла рентгено-дифракционным методом (профиль дифрагированного пучка как изображение объекта)
+
3. Контраст на рентгеновских топограммах
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*