Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур
4. Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Основы динамической теории рассеяния рентгеновских лучей
2. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
3. Возникновение внутренних напряжений при сопряжении слоев твердых фаз
+
4. Использование дифрактометрии высокого разрешения (ДВР) для измерения деформаций
-
4.1. Изучение пленок без переходного слоя
4.2. Изучение сопрягающихся пленок с переходным слоем
4.3. Применение трехкристальной дифрактометрии для анализа деформационного состояния градиентных слоев
4.4. Расчет КДО на основе динамической теории
5. Полное внешнее отражение рентгеновских лучей и его использование для диагностики поверхности (рентгеновская рефлектометрия)
+
6. Примеры использования методов дифрактометрии высокого разрешения при изучении структуры приповерхностных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*