Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Введение в фемтонанофотонику: фундаментальные основы и лазерные методы управляемого получения и диагностики наноструктурированных материалов
Часть VI. Метрологическое обеспечение наноизмерений. Базовые принципы
Поставить закладку
Введение
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Часть I. Фундаментальные основы термодинамики и статистической физики наноструктур и методы математического моделирования направленного их конструирования
+
ЧАСТЬ II. Лазерный синтез нанокластерной материи - основные особенности, методы и характеристики
+
Часть III. Микро- и наноструктуры. Гидродинамические неустойчивости, индуцированные лазерным излучением на поверхности твердых тел, и их диагностика методами лазерной и зондовой микроскопии
+
Часть IV. Гибридные лазерные методы получения и осаждения наноструктур композитного состава с управляемой морфологией на поверхности твердых тел; моделирование динамических процессов
+
Часть V. Компьютерное моделирование элементов оптоэлектронных систем и фотоники на микро- и наноуровне
+
Часть VI. Метрологическое обеспечение наноизмерений. Базовые принципы
-
Введение
Глава 19. Концепция развития нанометрологии
Глава 20. Техническое обеспечение нанометрологии
20.1. Оптическая микроскопия
20.2. Электронная микроскопия
20.3. Сканирующая зондовая микроскопия
20.4. Спектроскопия и хроматография в нанометрологии
20.5. Сравнительный анализ технических средств нанометрологии
Глава 21. Поверка и калибровка в сфере нанометрологии
21.1. Общие положения
21.2. Поверка и калибровка рельефной меры
21.3. Поверка и калибровка растровых микроскопов
21.4. Поверка и калибровка атомно-силовых микроскопов
21.5. Организационные основы нанометрологии
Выводы
Тестовые вопросы и задания
Список литературы
Приложение
Заключение
Об авторах
Summary
Данный блок поддерживает скрол*