Поиск

Закладки

Озвучивание недоступно

Озвучить книгу

Изменить режим чтения

Изменить размер шрифта

Оглавление

Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции нано-индустрии

Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии

Предыдущая страница

Следующая страница

Table of contents

Предисловие Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков, Г.В. Панкина

Введение Г.И. Элькин, В.Н. Крутиков

Раздел 1. Обеспечение единства измерений в Российской Федерации +

Раздел 2. Обеспечение единства измерений в сфере нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии +

Раздел 3. Методы и средства метрологического обеспечения исследований нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии +

Раздел 4. Прикладные вопросы метрологического обеспечения в сфере нанотехнологий и продукции наноиндустрии -

4.1. Введение В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, С.А. Кононогов, В.С. Иванов

4.2. Метрологическое обеспечение оптических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) Т.Б. Горшкова, С.С. Широков, В.И. Саприцкий

4.3. Метрологическое обеспечение характеристик солнечных батарей на основе нанотехнологий С.Н. Морозова, Б.Б. Хлевной, В.И. Саприцкий, В.С. Иванов, Ю.М. Золотаревский

4.4. Метрологическое обеспечение технологий формирования многослойных наноструктур на основе использования синхротронного излучения С.И. Аневский, В.С. Иванов, Ю.М. Золотаревский, В.Н. Крутиков, В.М. Лахов, О.А. Минаева, Р.В. Минаев

4.5. Метрологическое обеспечение нанотехнологий адресной доставки лекарств А.Д. Левин, Е.М. Рукин

4.6. Метрологическое обеспечение оптических постоянных наноструктурированных материалов Г.Г. Левин, А.В. Демин, П.К. Кашкаров, В.И. Панов, А.А. Федянин, С.В. Заботнов, Л.А. Головань

4.7. Разработка системы метрологического обеспечения измерений термохимических параметров нанопорошков металлов Г.В. Шувалов, А.П. Ильин, И.В. Клековкин, А.В. Коршунов, Л.О. Толбанова

4.8. Метрологическое обеспечение параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне методами интерферометрии высокого разрешения С.А. Кононогов, С.Ю. Золотаревский, В.Г. Лысенко

Заключение

Список основных сокращений

Данный блок поддерживает скрол*