Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
+
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
+
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
-
4.1. Чувствительность МУРЗ к электромагнитным воздействиям
4.2. Грозовые разряды
4.3. Коммутационные процессы и электромагнитные поля от работающего оборудования
4.4. Проблемы экранирования контрольных кабелей
4.5. Искажения сигналов в цепях трансформаторов тока
4.6. Влияние на МУРЗ гармоник в измеряемом напряжении и токе
4.7. Качество напряжения в питающей сети
4.8. Преднамеренные деструктивные электромагнитные воздействия
4.8.1. Актуализация проблемы электромагнитной совместимости для современной электроэнергетики
4.8.2. Классификация и особенности преднамеренных деструктивных электромагнитных воздействий
4.8.3. Воздействие ПДЭВ на МУРЗ
4.8.4. Возможные пути решения проблемы защиты МУРЗ от ЭМИ
4.8.5. Повышение живучести МУРЗ
4.9. Кибербезопасность
Литература к главе IV
Данный блок поддерживает скрол*