Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Микропроцессорные реле защиты. Устройство, проблемы, перспективы
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Глава I. Элементная база
+
Глава II. Устройство микропроцессорных устройств релейной защиты
+
Глава III. Надежность МУРЗ: проблемы и решения
-
3.1. Мифы о надежности МУРЗ
3.1.1. Отсутствие в МУРЗ подвижных частей
3.1.2. Сравнительная надежность электромеханических, полупроводниковых и микропроцессорных реле
3.1.3. Надежность и самодиагностика
3.1.3.1. Элементы памяти
3.1.3.2. Источник питания
3.1.3.3. Узел аналоговых входов
3.1.4. МУРЗ содержит меньшее количество элементов
3.1.5. Существование электроэнергетики сегодня невозможно без МУРЗ
3.1.6. Еще один класс проблем, о которых умалчивается
3.2. Выходные электромагнитные реле: проблемы и решения
3.3. Логические входы: проблемы и решения
3.4. Реальные данные о надежности МУРЗ
3.5. Проблемы оценки надежности МУРЗ
Литература к главе III
Глава IV. Проблема электромагнитных воздействий на МУРЗ
+
Данный блок поддерживает скрол*