Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы и средства аппаратного обеспечения высокопроизводительных микропроцессорных систем
2. Основные радиационные эффекты в микросхемах
Поставить закладку
2.1. Эффекты накопленной дозы
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Основные ограничения создания высокопроизводительных микропроцессоров
+
2. Основные радиационные эффекты в микросхемах
-
2.1. Эффекты накопленной дозы
2.2. Одиночные сбои
2.3. Множественные сбои
2.4. Множественные сбои и биполярный эффект
2.5. Кратковременные переходные процессы
2.6. Одиночное защелкивание
2.7. Модель кратковременного переходного процесса
3. Основные методики повышения надежности микросхем
4. Тестирование и верификация микросхем
+
5. Маршрут проектирования микросхем
+
6. Архитектура микропроцессоров
+
7. Организация подсистемы памяти
+
8. Основные архитектуры параллельных ЭВМ
+
9. Компьютерные сети
+
Заключение
Литература
Данный блок поддерживает скрол*