Поиск
Озвучить текст Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства

17.1. Постановка задачи для случая параметрического контроля интегральных микросхем при номинальных режимах функционирования
Для продолжения работы требуется Registration
На предыдущую страницу

Предыдущая страница

Следующая страница

На следующую страницу
Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства
На предыдущую главу Предыдущая глава
оглавление
Следующая глава На следующую главу

Table of contents

Глава 17. Методы отбраковки кремниевых микросхем со скрытыми дефектами в процессе серийного производства-
Данный блок поддерживает скрол*