Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
LabVIEW: практикум по электронике и микропроцессорной технике
1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов и устройств на их основе
Поставить закладку
1. Цель работы
2. Сведения, необходимые для выполнения работы
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Введение
1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов и устройств на их основе
-
1. Цель работы
2. Сведения, необходимые для выполнения работы
3. Описание лабораторного стенда
4. Рабочее задание
5. Контрольные вопросы
2. Исследование характеристик тиристора и управляемого выпрямителя
+
3. Исследование вольтамперной характеристики туннельного диода
+
4. Исследование характеристик биполярного транзистора
+
5. Исследование характеристик полевого транзистора
+
6. Исследование схем на основе операционного усилителя
+
7. Исследование характеристик аналоговых компараторов напряжения
+
8. Исследование цифровых систем
+
Приложение 1. Подготовка лабораторного стенда
+
Приложение 2. Среда графического программирования LabVIEW
+
Приложение 3. Справочные данные некоторых электронных компонентов
+
Данный блок поддерживает скрол*