Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Лазерная рефрактография
Глава 8. Количественная диагностика неоднородностей
Поставить закладку
8.1. Основные принципы количественной диагностики профиля неоднородности
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Глава 1. Введение
+
Глава 2. Структурированное лазерное излучение
+
Глава 3. Физические причины оптической неоднородности
+
Глава 4. Рефракция лазерных пучков в неоднородных средах
+
Глава 5. Рефракция СЛИ в сферической неоднородности
+
Глава 6. Лазерные рефрактографические системы
+
Глава 7. Цифровая регистрация и обработка рефрактограмм
+
Глава 8. Количественная диагностика неоднородностей
-
8.1. Основные принципы количественной диагностики профиля неоднородности
8.2. Алгоритм восстановления температурного поля
8.3. Температурный профиль сферического пограничного слоя
8.4. Экспоненциальная модель пограничного слоя
8.5. Принципы построения библиотеки рефрактограмм
Список литературы
Заключение
Контрольные вопросы
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*