Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ.
Глава 4. Рентгеноструктурный анализ на СИ
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
От редактора
Предисловие
Сокращения
Введение
Глава 1. Кое-что о рентгеноструктурном анализе, электромагнитном излучении, рентгеновских лучах, их свойствах и дифракции
+
Глава 2. Что такое синхротронное излучение?
+
Глава 3. Оборудование каналов СИ и экспериментальные станции
+
Глава 4. Рентгеноструктурный анализ на СИ
-
4.1. Суть рентгеноструктурного анализа
4.2. Дифрактометрия монокристаллов на монохроматическом излучении
4.3. Применения СИ в рентгеноструктурном анализе монокристаллов
4.4. Дифрактометрия порошков
Глава 5. XAFS спектроскопия для структурного анализа
+
Глава 6. Некоторые полезные формулы, таблицы и графики
+
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*