Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Синхротронное излучение. Методы исследования структуры веществ.
Глава 1. Кое-что о рентгеноструктурном анализе, электромагнитном излучении, рентгеновских лучах, их свойствах и дифракции
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
От редактора
Предисловие
Сокращения
Введение
Глава 1. Кое-что о рентгеноструктурном анализе, электромагнитном излучении, рентгеновских лучах, их свойствах и дифракции
-
1.1. Электромагнитное излучение и рентгеновские лучи
1.2. Свойства излучения рентгеновской трубки
1.3. Математическое описание бегущих волн (волновое уравнение)
1.4. Волновые свойства рентгеновских лучей
1.5. Корпускулярные свойства рентгеновских лучей
1.6. О дифракции света, как "родственника" рентгеновских лучей
1.7. Принципы рентгеновской кристаллографии
1.8. Интенсивность рассеяния рентгеновских лучей кристаллами - атомная структура
1.9. Рентгеноструктурный анализ и фазы структурных факторов
Глава 2. Что такое синхротронное излучение?
+
Глава 3. Оборудование каналов СИ и экспериментальные станции
+
Глава 4. Рентгеноструктурный анализ на СИ
+
Глава 5. XAFS спектроскопия для структурного анализа
+
Глава 6. Некоторые полезные формулы, таблицы и графики
+
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*