Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Теория тестирования логических устройств
Глава 2. Неисправности типа слипания
Поставить закладку
2.1. Результаты
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Оглавление
Предисловие редактора
Предисловие
I. Сложность тестов для к-значных логических устройств
+
Глава 1. Константные неисправности
+
Глава 2. Неисправности типа слипания
-
2.1. Результаты
2.2. Верхние оценки для L(n, Sk)
2.3. Нижняя оценка для L(n, Sk)
2.4. Подкласс Sk(p)
Глава 3. Инверсные неисправности
+
Глава 4. Разнотипные неисправности
+
II. Сложность контроля логических схем типа Поста
+
Глава 5. Асимптотика функцийШеннона для классов Поста
+
Глава 6. Сложность минимальных тестов для почти всех функцийиз классов Поста
+
Глава 7. О сложности минимальных тестов для классов Поста
+
Глава 8. Алгоритмы построения минимальных тестов для классов Поста
+
Глава 9. Заключение
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*