Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
LabVIEW: практикум по электронике и микропроцессорной технике
8. Исследование цифровых систем
Поставить закладку
Если Вы наш подписчик,то для того чтобы скопировать текст этой страницы в свой конспект,
используйте
просмотр в виде pdf
. Вам доступно 4 стр. из этой главы.
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Введение
1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов и устройств на их основе
2. Исследование характеристик тиристора и управляемого выпрямителя
3. Исследование вольтамперной характеристики туннельного диода
4. Исследование характеристик биполярного транзистора
5. Исследование характеристик полевого транзистора
6. Исследование схем на основе операционного усилителя
7. Исследование характеристик аналоговых компараторов напряжения
8. Исследование цифровых систем
Приложение 1. Подготовка лабораторного стенда
Приложение 2. Cреда графического программирования LabVIEW
Приложение 3. Справочные данные некоторых электронных компонентов
Литература
Данный блок поддерживает скрол*