Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия
3. Инструментальная реализация метода рентгеновской рефлектометрии
Поставить закладку
3.1. Оптическая схема прибора для случая тонких слоев
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии
+
2. Диффузное рассеяние
+
3. Инструментальная реализация метода рентгеновской рефлектометрии
-
3.1. Оптическая схема прибора для случая тонких слоев
3.1.1. Геометрия образца и рентгеновского пучка
3.1.2. Выбор детектора
3.2. Оптическая схема прибора для случая толстых слоев
3.3. Требования к образцам, измеряемым методом рентгеновской рефлектометрии
3.4. Анализ экспериментальных данных
3.4.1. Предварительная обработка данных
3.4.2. Общие замечания по анализу рентгенорефлектометрических данных
3.4.3. Моделирование толщины границы
3.4.4. Моделировании рентгенорефлектометрических данных
3.4.5. Процедура "подгонки"
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*