Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия
1. Теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии
/
/
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии
-
1.1. Зеркальное отражение от идеальной поверхности
1.2. Зеркальное отражение от шероховатой поверхности
1.3. Зеркальное отражение от тонкой пленки на подложке
1.4. Зеркальное отражение от многослойной структуры
1.4.1. Рефлектометрия на двухслойной структуре
1.4.2. Отражение от периодической многослойной структуры (сверхрешетки)
Заключение
Библиографический список
2. Диффузное рассеяние
+
3. Инструментальная реализация метода рентгеновской рефлектометрии
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*