Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур: ионная имплантация
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
1. Изменения структуры кристаллической решетки вследствие ионной имплантации
+
2. Расчет кривых дифракционного отражения на основе динамической теории
-
2.1. Основные положения динамической теории рассеяния
2.2. Влияние дефектов на дифракцию
2.3. Уравнения Такаги-Топэна
2.4. Расчет кривой дифракционного отражения на основе уравнений Такаги-Топэна
2.5. Полукинематическое приближение
2.6. Метод восстановления профиля деформации
2.7. Генетический алгоритм
3. Рентгеновская дифрактометрия высокого разрешения
+
4. Пример применения дифрактометра высокого разрешения для исследования структуры ионоимплантированных слоев
+
Заключение
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*