Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Методы исследования микроэлектронных и наноэлектронных материалов и структур: сканирующая зондовая микроскопия
Глава 1. Методы сканирующей зондовой микроскопии
/
/
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Ведение
Глава 1. Методы сканирующей зондовой микроскопии
-
Общие принципы работы сканирующих зондовых микроскопов 8 СЗМ-изображения, способы обработки и представления результатов эксперимента
Методика восстановления поверхности образца по ее СЗМ-изображению
Тестовые структуры
Общая конструкция СЗМ
Устройства защиты СЗМ от внешних воздействий
Контрольные вопросы
Глава 2. Сканирующая туннельная микроскопия
+
Глава 3. Атомно-силовая микроскопия
+
Глава 4. Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия
+
Библиографический список
Данный блок поддерживает скрол*