Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Автоматизированное проектирование отказоустойчивых запоминающих устройств
ГЛАВА 4. МЕТОДОЛОГИЯ ВЕРИФИКАЦИИ МОДЕЛЕЙ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИХ МИКРОСХЕМ ПАМЯТИ
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. НАУЧНО-МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РАЗРАБОТКИ ДИАГНОСТИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
ГЛАВА 2. МЕТОДЫ РАЗРАБОТКИ АЛГОРИТМОВ И ПРОГРАММ ТЕСТОВОГО ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
ГЛАВА 3. АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ И СИСТЕМ
ГЛАВА 4. МЕТОДОЛОГИЯ ВЕРИФИКАЦИИ МОДЕЛЕЙ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИХ МИКРОСХЕМ ПАМЯТИ
ГЛАВА 5. АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ СРЕДСТВ ВСТРОЕННОГО САМОТЕСТИРОВАНИЯ И САМОРЕМОНТА МИКРОСХЕМ И МОДУЛЕЙ ПАМЯТИ
ГЛАВА 6. МЕТОДОЛОГИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
ГЛАВА 7. СРЕДСТВА СОПРЯЖЕНИЯ УСТРОЙСТВ ТЕСТОВОГО ДИАГНОСТИРОВАНИЯ И ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ НА КРИСТАЛЛЕ
Данный блок поддерживает скрол*