Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Автоматизированное проектирование отказоустойчивых запоминающих устройств
ГЛАВА 4. МЕТОДОЛОГИЯ ВЕРИФИКАЦИИ МОДЕЛЕЙ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИХ МИКРОСХЕМ ПАМЯТИ
/
/
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. НАУЧНО-МЕТОДОЛОГИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ РАЗРАБОТКИ ДИАГНОСТИЧЕСКОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
ГЛАВА 2. МЕТОДЫ РАЗРАБОТКИ АЛГОРИТМОВ И ПРОГРАММ ТЕСТОВОГО ДИАГНОСТИРОВАНИЯ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
ГЛАВА 3. АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ ЦИФРОВЫХ УСТРОЙСТВ И СИСТЕМ
ГЛАВА 4. МЕТОДОЛОГИЯ ВЕРИФИКАЦИИ МОДЕЛЕЙ БЫСТРОДЕЙСТВУЮЩИХ МИКРОСХЕМ ПАМЯТИ
ГЛАВА 5. АВТОМАТИЗИРОВАННОЕ ПРОЕКТИРОВАНИЕ СРЕДСТВ ВСТРОЕННОГО САМОТЕСТИРОВАНИЯ И САМОРЕМОНТА МИКРОСХЕМ И МОДУЛЕЙ ПАМЯТИ
ГЛАВА 6. МЕТОДОЛОГИЯ АВТОМАТИЗИРОВАННОГО ПРОЕКТИРОВАНИЯ ОТКАЗОУСТОЙЧИВЫХ ЗАПОМИНАЮЩИХ УСТРОЙСТВ
ГЛАВА 7. СРЕДСТВА СОПРЯЖЕНИЯ УСТРОЙСТВ ТЕСТОВОГО ДИАГНОСТИРОВАНИЯ И ЦИФРОВЫХ СИСТЕМ НА КРИСТАЛЛЕ
Данный блок поддерживает скрол*