Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
Словарь наиболее часто используемых аббревиатур
Глава 1. Основы растровой электронной микроскопии
1. Введение
+
2. Устройство растровых электронных микроскопов
+
3. Подготовка образцов
+
Глава 2. Метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ) и примеры исследования материалов
+
Глава 3. Рентгеновский микроанализ в наноматериалах
+
Глава 4. Низкокиловольтная растровая электронная микроскопия
+
Глава 5. Электронно-лучевая нанолитография в растровом электронном микроскопе
+
Глава 6. Просвечивающая растровая электронная микроскопия для исследования наноструктур
+
Глава 7. Введение в наноманипулирование in situ для конструирования наноматериалов
+
Глава 8. Применение фокусированного ионного пучка и двухлучевых систем DualBeam для изготовления наноструктур
-
1. Введение
2. Генераторы шаблонов, встроенные в приборы ФИП
3. Травление с помощью ФИП либо ХГФО пленок по двумерным шаблонам с программируемой дозой
4. Нанесение рисунка электронным лучом с помощью встроенных генераторов шаблонов
5. Автоматизация наноразмерного управления пучком
6. Непосредственное изготовление наноразмерных структур
7. Выводы
Литература
Глава 9. Нанопроволоки и углеродные нанотрубки
+
Глава 10. Фотонные кристаллы и устройства
+
Глава 11. Наночастицы и коллоидные самосборки
+
Глава 12. Наноблоки, изготовленные посредством темплатов
+
Глава 13. Одномерные полупроводниковые структуры с кристаллической решеткой типа вюрцита
+
Глава 14. Бионаноматериалы
+
Глава 15. Низкотемпературные стадии в наноструктурных исследованиях
+
Литература
Предметный указатель
Данный блок поддерживает скрол*