Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Маркировка радиодеталей отечественных и зарубежных. Том 1
7. Особенности тестирования электронных компонентов
Поставить закладку
7.1. Тестирование конденсаторов
Для продолжения работы требуется
Registration
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Предисловие
1. Резисторы
+
2. Конденсаторы
+
3. Катушки индуктивности
+
4. Маркировка кварцевых резонаторов и пьезофильтров
+
5. Маркировка полупроводниковых приборов
+
6. Маркировка полупроводниковых SMD радиокомпонентов
+
7. Особенности тестирования электронных компонентов
-
7.1. Тестирование конденсаторов
7.2. Тестирование полупроводниковых диодов
7.3. Тестирование транзисторов
7.4. Тестирование однопереходных и программируемых однопереходных транзисторов
7.5. Тестирование динисторов, тиристоров, симисторов
7.6. Определение структуры и расположения выводов транзисторов, тип которых неизвестен
7.7. Тестирование полевых МОП-транзисторов
7.8. Тестирование светодиодов
7.9. Тестирование оптопар
7.10. Тестирование термисторов
7.11. Тестирование стабилитронов
7.12. Расположение выводов транзисторов
Приложение 1. Краткие справочные данные по зарубежным диодам
Приложение 2. Краткие справочные данные по зарубежным транзисторам
Приложение 3. Типы корпусов СВЧ транзисторов
Данный блок поддерживает скрол*