Справка
x
Поиск
Закладки
Озвучить книгу
Изменить режим чтения
Изменить размер шрифта
Оглавление
Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.
Формирование и свойства центров люминесценции в щелочно-галоидных кристаллах
Глава 4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных кристаллах
Предыдущая страница
Следующая страница
Table of contents
Введение
Глава 1. Термически стимулированные дефекты чистых кристаллов
+
Глава 2. Щелочно-галоидные кристаллы с примесью никеля
+
Глава 3. Примесные центры люминесценции в кристаллах с примесью ртутеподобных ионов
+
Глава 4. Применение методов EXAFS-спектроскопии для исследования структуры дефектов в щелочно-галоидных кристаллах
-
4.1. Сущность метода EXAFS-спектроскопии
4.2. Исследование щелочно-галоидных кристаллов методом EXAFS
4.3. Люминесцентные методы регистрации спектров EXAFS
4.4. Применение люминесцентных методов EXAFS-спектроскопии для исследования щелочно-галоидных кристаллов
4.5. Выводы
Глава 5. Применение щелочно-галоидных кристаллов для рентгеновской микроскопии
+
Глава 6. Заключение
Список литературы
Данный блок поддерживает скрол*