Поиск

Закладки

Озвучивание недоступно

Озвучить книгу

Изменить режим чтения

Изменить размер шрифта

Оглавление

Для озвучивания и цитирования книги перейдите в режим постраничного просмотра.

Нанотехнологии и микромеханика: Учеб. пособие. - Ч. 4: Зондовые нанотехнологии

1. Сканирующий туннельный микроскоп

Предыдущая страница

Следующая страница

Table of contents

Введение

1. Сканирующий туннельный микроскоп -

1.1. Теоретические основы сканирующей туннельной микроскопии

1.2. Режимы профилометрии сканирующего туннельного микроскопа

1.3. Режимы измерения электрофизических свойств образца

1.4. Состав, конструкция и работа сканирующего туннельного микроскопа

1.5. Области применения сканирующего туннельного микроскопа

1.6. Атомно-силовой микроскоп

2. Явления под зондами сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа

3. Зондовые нанотехнологии +

4. Нанотрубки в зондовой нанодиагностике

Список литературы

Данный блок поддерживает скрол*