**Данные блоки поддерживают скрол
**Данные блоки поддерживают скрол вверх/вниз
МИСиС (03.00.00 Физика и астрономия)
Статистическая физика
АвторыВекилов Ю.Х., Кузьмин Ю.М., Мухин С.И.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Статистическая физика - раздел курса "Теоретическая физика", читаемого на физико-химическом факультете студентам специальности 0709. Цель пособия - ознакомить студентов с основными теоретическими положениями статистической физики и методами решения типовых задач. Пособие должно помочь студентам освоить лекционный материал и приобрести навыки решения задач. Объем и содержание пособия соответствует программе курса. Пособие также полезно студентам факультета полупроводниковых материалов и приборов и вечернего факультета при изучении курса "Квантовая и статистическая физика". ...
Downloaded
2020-01-03
Высшая математика. Раздел: Теоретические основы тепловых процессов
АвторыДудникова Т.В.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Пособие посвящено изложению методов математической физики для описания распространения тепла в материальных средах. Материал иллюстрируется достаточным количеством подробно решенных типовых задач. В конце каждой главы приведены задачи для самостоятельного решения с ответами. ...
Downloaded
2020-01-05
Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет
АвторыЛадыгин Е.А., Лагов П.Б., Мурашев В.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
В пособии кратко изложены современные теоретические представления об образовании первичных дефектов в объеме полупроводника, приведены формулы для расчета основных электрофизических параметров монокристаллических полупроводников при воздействии быстрых частиц и гамма-квантов в широком диапазоне энергий. Цель пособия заключается в приобретении практических навыков выполнения расчета полного числа неравновесных смещений атомов в единице объема полупроводникового монокристалла при облучении различными видами частиц и гамма-квантов надпороговых энергий. Приведены точные значения фундаментальных физических констант, необходимых для расчетов, а также наглядные графические зависимости рассчитываемых параметров от условий облучения для кремния, которые полезно использовать для самопроверки результатов расчета. <br>Пособие предназначено для студентов специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника", выполняющих курсовые работы по дисциплине "Основы лучевой технологии микроэлектроники", а также пособие будет полезно студентам, аспирантам и специалистам, выполняющим дипломные и научно-исследовательские работы в области радиационной физики, материаловедения, технологии полупроводниковых приборов и интегральных схем. ...
Downloaded
2019-10-27
Моделирование полупроводниковых приборов
АвторыЮрчук С.Ю., Мурашев В.Н.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Данный курс лекций является частью курса "Моделирование технологических процессов". В нем приведены основные уравнения, описывающие работу полупроводниковых приборов, и основные подходы к их решению, применяемые при моделировании; предложены примеры моделирования работы основных полупроводниковых приборов, являющихся элементами интегральных схем; показаны способы упрощения решения базовой системы уравнений для разных приборов. <br>Решение уравнений и численные алгоритмы не рассматриваются, так как этот материал должен прорабатываться на практических занятиях и при выполнении лабораторных работ. <br>Для усвоения предлагаемого материала необходимо иметь базовые знания по курсам "Физика твердого тела", "Физика полупроводниковых приборов и ИС", а также иметь представления об основных численных методах.<br> Предназначен для студентов направления 654100 "Электроника и микроэлектроника" специальности 200100 "Микроэлектроника и твердотельная электроника" (специализация "Физика и технология интегральных микросхем и полупроводниковых приборов"). ...
Downloaded
2019-11-01
Метрология, стандартизация и взаимозаменяемость: Нормирование точности
АвторыВеремеевич А.Н., Морозова И.Г., Русаков А.Д.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Лабораторный практикум предназначен для студентов, выполняющих лабораторные работы по курсу "Метрология, стандартизация и взаимозаменяемость. Нормирование точности". <br>Описан порядок проведения лабораторных работ. Рассмотрены теоретические положения, необходимые для подготовки к лабораторным работам. В конце каждой работы указана соответствующая литература, приведен список контрольных вопросов. <br>Практикум предназначен для студентов специальности 1703. ...
Downloaded
2019-09-04
Применение численных методов для решения задач теплообмена
АвторыАрутюнов В.А., Крупенников С.А., Левицкий И.А.
ИздательствоМИСиС
Год издания2001
Целью практикума является освоение численных методов решения задач сложного (радиационно-конвективного) теплообмена (Лабораторные работы 1 - 6) и задач теплопроводности (Лаборатор-ные работы 7 - 12), а также приобретение разработки соответстсвующих алгоритмов и реализующих их компьютерных программ. ...
Downloaded
2019-09-04
Панель управления
Читайте книги в приложении Консутльтант Студента на iOS, Android или Windows