АвторыС.Д. Карпухин, Ю.А. Быков
Атомно-силовая микроскопия
ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана
Тип изданияучебное пособие
Год издания2012
Скопировать биб. запись
Для каталогаКарпухин, С. Д. Атомно-силовая микроскопия : учебное пособие / С. Д. Карпухин, Ю. А. Быков. - Москва : Издательство МГТУ им. Н. Э. Баумана, 2012. - 38 с. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/bauman_0215.html (дата обращения: 29.12.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияИзложены физические основы атомно-силовой микроскопии. Рассмотрены режимы работы атомно-силового микроскопа. Дано описание отдельных узлов атомно-силового микроскопа. Проанализированы технические возможности, особенности конструкции и требования к образцам зондовых микроскопов СММ-2000 и "НаноСкан". Для студентов, обучающихся по специальности "Материаловедение в машиностроении", а также для студентов, специализирующихся в области разработки нанотехнологий, наноструктурирован-ных материалов и прецизионной оценки состояния поверхности изделий.