АвторыМалышев К.В., Башков В.М., Мешков С.А.
Наноматериалы для радиоэлектронных средств. - Ч. 2: Исследование наноматериалов с помощью сканирующего туннельного микроскопа: Методические указания к лабораторным работам по курсу "Наноматериалы для радиоэлектронных средств"
ИздательствоМГТУ им. Н.Э. Баумана
Тип изданияучебно-методическое пособие
Год издания2007