АвторыКларк Эшли Р., Эберхардт Колин Н.
Микроскопические методы исследования материалов
ИздательствоТехносфера
Тип изданиямонография
Год издания2007
Скопировать биб. запись
Для каталогаКларк, Э. Р. Микроскопические методы исследования материалов / Кларк Эшли Р. , Эберхардт Колин Н. - Москва : Техносфера, 2007. - 376 с. - ISBN 978-5-94836-121-5. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785948361215.html (дата обращения: 18.12.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияЗа последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические - например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.