АвторыБублик В.Т.
Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия
ИздательствоМИСиС
Тип изданияучебное пособие
Год издания2016
Скопировать биб. запись
Для каталогаБублик, В. Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур : рентгеновская рефлектометрия / Бублик В. Т. - Москва : МИСиС, 2016. - 84 с. - ISBN 978-5-87623-982-2. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785876239822.html (дата обращения: 22.11.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияКратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу "Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур", читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов" по программе "Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники". Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 "Материаловедение и технологии материалов" по программе "Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники".