АвторыРожнов А.Б.
Патентные исследования. Анализ патентной ситуации
ИздательствоМИСиС
Тип изданияучебное пособие
Год издания2015
Скопировать биб. запись
Для каталогаРожнов, А. Б. Патентные исследования. Анализ патентной ситуации / Рожнов А. Б. - Москва : МИСиС, 2015. - 75 с. - ISBN 978-5-87623-977-8. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785876239778.html (дата обращения: 19.11.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияВ пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса "Разработка и коммерциализация новых материалов" и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники. Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору № 14.А12.31.0001 от 24.06.2013 г.