Скопировать биб. запись
Для каталогаПолушин, Н. И. Сверхтвердые материалы : рентгенографические, электронно- микроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов / Полушин, Н. И. - Москва : МИСиС, 2014. - 57 с. - ISBN 978-5-87623-796-5. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785876237965.html (дата обращения: 05.11.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияВ практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 "Материаловедение и технологии материалов" и по специальностям 150701 "Физико-химия процессов и материалов", 210602 "Наноматериалы", а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.