АвторыСкорская О.Л.
Методы и средства аналитического контроля материалов : атомно-эмиссионный спектральный анализ
ИздательствоМИСиС
Тип изданияучебное пособие
Год издания2015
Скопировать биб. запись
Для каталогаСкорская, О. Л. Методы и средства аналитического контроля материалов : атомно-эмиссионный спектральный анализ / Скорская О. Л. - Москва : МИСиС, 2015. - 54 с. - ISBN 978-5-87623-851-1. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785876238511.html (дата обращения: 23.11.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияИзложены основы метода атомно-эмиссионного спектрального анализа веществ и материалов. Дано описание метода, его возможностей и характерных особенностей, применения для контроля и анализа веществ, в том числе материалов металлургического производства. Предназначено для усвоения теоретических основ методов аналитического контроля и анализа веществ студентами, изучающими дисциплину "Методы и средства аналитического контроля материалов", обучающимися по направлениям подготовки бакалавров 221700.62 (27.03.01) "Стандартизация и метрология" и 221400.62 (27.03.02) "Управление качеством".