АвторыВекилова Г.В., Иванов А.Н., Ягодкин Ю.Д.
Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов
ИздательствоМИСиС
Тип изданияучебное пособие
Год издания2009
Скопировать биб. запись
Для каталогаВекилова, Г. В. Дифракционные и микроскопические методы и приборы для анализа наночастиц и наноматериалов : учебное пособие / Векилова Г. В. , Иванов А. Н. , Ягодкин Ю. Д. - Москва : МИСиС, 2009. - 145 с. - ISBN 978-5-87623-228-1. - Текст : электронный // ЭБС "Консультант студента" : [сайт]. - URL : https://www.studentlibrary.ru/book/ISBN9785876232281.html (дата обращения: 26.11.2024). - Режим доступа : по подписке.
АннотацияВ учебном пособии рассмотрены физические основы методов и аппаратура для проведения рентгеноструктурного, электроно- и нейтронографического анализов, просвечивающей электронной микроскопии, растровой электронной микроскопии и рентгеноспектрального микроанализа, позволяющие исследовать химический состав и структуру различных материалов, в том числе и нанокристаллических. Особое внимание уделено описанию возможностей этих методов, их точности, чувствительности и локальности. <br>Соответствует программе курса "Методы и приборы для анализа и диагностики наночастиц и наноматериалов". <br>Предназначено для студентов, обучающихся по направлению "Нанотехнология" (специальность "Наноматериалы") и по направлению "Материаловедение и технологии материалов" (профиль "Материаловедение и технологии наноматериалов и наносистем").